Apresentação
O Laboratório Institucional de Raios X é responsável pelas coletas de dados de monocristais e pelo tratamento dos dados coletados, permitindo a determinação de estruturas químicas de pequenas moléculas, inclusive com capacidade para atribuição de estereoquímica absoluta. Em alguns casos, o laboratório pode avaliar cristais e determinar celas unitárias de biomoléculas. Este laboratório também conta com um espectrômetro de fluorescência de Raios-X por comprimento de onda que permite determinação qualitativa e semi-quantitativa multielemetar em amostras sólidas.
Equipamentos
Detalhes sobre os equipamentos que podem ser encontrados no laboratório.
Difratômetro de Raios X de Monocristal - Bruker Apex II DUO
O difratômetro Apex II DUO (Bruker) possui um goniômetro Kappa de 4 círculos (chassis modelo D8), fonte de radiação de molibdênio (tubo selado, Siemens K780) e um detector de área CCD APEX II, contando com um soprador criogênico, que permite a obtenção de dados a baixas temperaturas.
De modo geral, as coletas de dados realizadas no difratômetro Apex II DUO permitem resolver estruturas de moléculas orgânicas e inorgânicas, biomoléculas, complexos metálicos e sais, quando estes são produzidos na forma de monocristais. O laboratório está equipado com um microscópio (modelo SZ-61, OYMPUS), dotado de polarizador, para o trabalho de avaliação, seleção, manipulação e montagem dos cristais.
Espectrômetro Sequencial de Fluorescência de Raios X por Comprimento de Onda - Shimadzu XRF-1800
O espectrômetro sequencial de fluorescência de raios x por comprimento de onda – XRF-1800 (Shimadzu) tem capacidade de identificar e medir sinais de elementos a partir do flúor, fornecendo rapidamente estimativas de quantidades dos elementos presentes na amostra, sem a necessidade de padrões e de curvas analíticas (análises semi-quantitativas).
Espectrômetro de Fluorescência de Raios X Dispersivo em Energia - Shimadzu µEDX-1300
O espectrômetro de Fluorescência de Raios X Dispersivo em Energia – µEDX-1300 (Shimadzu) permite a realização de análises elementares, com identificação de elementos a partir do magnésio, através de medidas pontuais (área de irradiação de 50 micros) sobre a superfície da amostra. São obtidas estimativas das quantidades dos elementos presentes na amostra sem a necessidade de padrões e de curvas analíticas (análises semi-quantitativas).
Sistema para Medição de Espalhamento de Raios X a baixo ângulo - Anton Paar SAXSpoint 5.0
O SAXSpoint 5.0 (Anton-Paar) é um sistema para medições de espalhamento de raios X a baixos ângulos (SAXS) utilizado para analisar nanoestruturas de materiais na faixa de ~ 1 a 200 nm em um range em q (vetor de espalhamento) variando de 0,01 a 47,5 nm-1. Equipado com duas fontes de radiação (microfontes Primux 100 de Cu e de Mo), um detector 2D HPC Eiger2, o sistema possui um módulo de alta resolução em WAXS, o que permite obter dados de 1 a 50° (2θ).
O equipamento possui diferentes tipos de porta amostras, permitindo a realização de experimentos com amostras líquidas, em pó, filmes, pastas, suspensões e géis. O sistema para medidas em capilar é equipado com controlador de temperatura, permitindo a obtenção de dados de 5 °C a 90 °C.
Equipe
